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SE-VE光譜橢偏儀

簡要描述:產品簡介:SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設計,使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。高性價比光學橢偏測量解決方案,緊湊集成化設計,用戶操作體驗,一鍵快速測量分析,人機交互設計,使用便捷,豐富的數據庫和幾何結構模型庫,保證強大數據分析能力,廣泛應用于科研/企業中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數等快速表征分析。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2019-02-26
  • 訪  問  量:2373

詳細介紹

產地類別國產

 

 

產品型號

SE-VE光譜橢偏儀

主要特點

1、采用高性能進口復合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm)

2、高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置,實現Psi/Delta光譜數據高速采集

3、數百種材料數據庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料

技術參數

1、自動化程度:固定角

2、應用定位:經濟型

3、基本功能:Psi/Delta、N/C/S、R等光譜

4、分析光譜:400-800nm

5、單次測量時間:0.5-5s

6、重復性測量精度:0.05nm

7、光斑大小:大光斑1-3mm

8、入射角調節方式:固定角

9、入射角范圍:65°

10、找焦方式:手動找焦

11、Mapping行程:不支持

12、支持樣件尺寸:大至160mm

可選配件

1

溫控臺

 

2

真空泵

 

3

透射吸附組件

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